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采用無鉛產(chǎn)品會使產(chǎn)品是否導致返修率上升

日期:2025-05-23 00:47
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摘要:

?通用汽車的一位**可靠性專家*近表示:“你知道無鉛帶來的問題嗎?沒有人能夠回答這樣一個簡單的問題:如果我所制造的無鉛產(chǎn)品的質量與用錫鉛的產(chǎn)品一樣,它們工作的時間能一樣長嗎?”?

問題很簡單,答案也并不復雜。經(jīng)過多年的研究和試驗,UV老化試驗箱研究人員已經(jīng)把影響無鉛產(chǎn)品長期可靠性的因素歸結到以下5個方面。?

● 錫須?
● Kirkendall空洞?
● 無鉛焊料的機械震動?
● 無鉛焊料的熱循環(huán)?
● 導電陽極絲(CAF)?

錫須?

錫須是從元器件和接頭的錫鍍層上生長出來的,如果這些導電的錫須長得太長的話,可能連到其他線路上,并導致電氣短路。通過在器件引腳上使用90Sn10Pb鍍層已經(jīng)有效地消除了錫須問題,但現(xiàn)在這個問題又冒了出來。?

有些公司用鍍純錫的器件生產(chǎn)了大量的無鉛產(chǎn)品,UV老化試驗箱已經(jīng)發(fā)現(xiàn)使用過程中的錫須問題,并且在不到2年的時間內就會出現(xiàn)故障。雖然還不清楚實際的故障率,但證據(jù)顯示錫須故障并未使總體的產(chǎn)品返修率增加。由于在細引腳器件上鍍錫是*近三四年才有的事情,錫須對長期可靠性的影響還有待觀察。

如果你不是在設計可能會造**身傷害的產(chǎn)品,元器件和連接器就要首先考慮是不是具有下面這些特點。?

● 引腳間距小于1mm(有些公司采用的間距小于0.3mm)?
● 可采用金屬外殼(例如通孔晶振或振蕩器)?
● 受積壓的連接點(例如接頭彎曲的電路)?
● 有焊縫(例如電解電容)?

??? 一旦確定了關鍵器件,你應該要求器件生產(chǎn)商提供基于iNEMI建議或JEDEC標準JESD22A121的認證測試。業(yè)界對故障的定義幾乎還是空白,UV老化試驗箱所以你也許需要提出自己的標準。標準既可以是**數(shù)值,例如*大的晶須長度不能超過25、50或75μm,也可以是相對數(shù)值(如*小間距的1/3或1/2)。?

????Kirkendall空洞?

??? 在兩種不相近的材料之間,由于擴散速率的不同所產(chǎn)生的空洞就稱為Kirkendall空洞,這種空洞產(chǎn)生機制在SnPb和無鉛焊料中均存在。在*近的實驗中,SnPb焊料中會產(chǎn)生很嚴重的空洞。但在過去30年的表面安裝技術使用過程中,還沒有因為Kirkendall空洞導致產(chǎn)品故障的報告。?

??? 在無鉛焊料中,Kirkendall空洞是由一些未知因素造成的,UV老化試驗箱似乎會使問題更加嚴重,尤其是在長期的高溫條件下。?

????機械震動?

??? 即使你沒有碰到過Kirkendall空洞,對因機械震動或跌落造成的產(chǎn)品性能下降還是要有所準備。有研究表明,在被施加震動、跌落或電路板被彎曲時,SAC(SnAgCu)焊料合金的失效負載還不到SnPb合金的一半。這種性能損失似乎是幾個因素的共同作用,包括脆弱的金屬間化合,因更高的回流焊接溫度而導致的電路板降級,由于SAC比SnPb更硬而傳遞了更大的應力。?

??? 這到底是一個長期可靠性問題,還是從一開始就是一個質量問題呢?便攜式電子產(chǎn)品制造商的無鉛化已經(jīng)實施了數(shù)年,還沒有因為跌落導致返修率增加的報告。有些公司把注意力集中到如何更好地控制制造環(huán)境,特別是減小*大的允許張力,從1000微肋變減少到750或500微肋變。?

????熱循環(huán)?

??? 在某些特定的情況下,SnPb材料的熱性能比無鉛的要好,UV老化試驗箱應該考慮下面的一些情況。?

● 對焊點疲勞高度敏感的元件(如大型片上電阻、陶瓷封裝的BGA、無引腳陶瓷基片、未填充的芯片級封裝)。?
● *大的節(jié)點溫度超過80℃,駐留時間超過4小時(駐留時間隨溫度上升而下降)。?
● 每天至少進行一次熱循環(huán),預期使用壽命至少為10年(使用壽命隨循環(huán)頻率的增加而減小)。?

??? 如果你處在上面提到的這些情況下,就需要進行基于現(xiàn)有的無鉛焊料節(jié)點可靠性模型的加速壽命實驗來確定風險。公開的模型更可靠一些,Amkor和德國的Fraunhofer Institute為此做出了很多工作。?

????CAF的形成?

??? 導電陽極絲(CAF)是由銅絲沿著玻璃纖維或樹脂接口遷移形成的,會在相鄰的導體間產(chǎn)生內部的電氣短路,這對高密度電路板的設計來說是一個嚴重的問題,更高的回流焊溫度會導致該問題更易發(fā)生。有些大型PCB板生產(chǎn)商在使用無鉛回流焊時,就無法滿足用戶的CAF要求。?

??? 有些材料和加工工藝即使經(jīng)過多次回流焊,也可以使UV老化試驗箱電路板避免CAF問題。不管怎樣,所有這些辦法都會增加成本,因為會用到**的或私有的技術。這樣一來,除非客戶特別要求,許多PC板生產(chǎn)商就不會采用可防CAF的材料。?

??? Interface Science(Goleta,CA)通過引入硅烷開發(fā)了一種很有前途的減緩技術,可使密度和玻璃纖維的硅烷外殼一致性達到*大。更好的一致性可以使玻璃纖維和樹脂結合得更加緊密,減少了CAF發(fā)生的可能性。

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